HZJF-121模擬局部放電檢測儀是我公司研制開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的又一新穎儀器。它基本保持了前幾種儀器的優(yōu)點(diǎn)和功能，又根據當今國內外局放儀研究領(lǐng)域的先進(jìn)理論，參照國際電工委員會(huì )(IEC)標準，采用了先進(jìn)電路，引用了先進(jìn)技術(shù)，通過(guò)各地用戶(hù)廣泛試用后的不斷改進(jìn)而成的，HZJF-121模擬局部放電檢測儀在設計上更完善，使用上更方便，性能上更可靠。

  操作說(shuō)明

  (一)試驗準備

  1、檢查試驗場(chǎng)地的接地情況，將本儀器后部的接地螺栓38用粗銅線(xiàn)(最好用編織銅帶)與試驗場(chǎng)地的接地線(xiàn)妥善相接。輸入單元的接地短路片也要妥善接地。

  2、根據試品電容CX耦合電容CK的大小，選取合適序號的輸入單元，表一中調諧電容量系指從輸入單元初級繞組兩端看到的等效電容(可按CX與CK的串聯(lián)值粗略估算)。

  輸入單元應盡量靠近被測試品，輸入單元的“接放大器”Q9插座，經(jīng)8米長(cháng)電纜與儀器后背板上的放大器輸入插座30(有綠色圈)相接。

  3、試品接入輸入單元的方法主要有以下幾種。

  并聯(lián)接法

  串聯(lián)接法

  平衡接法

  橋式接法

  圖中：CX——試品;CK——耦合電容;Z——阻塞阻抗;

  R3、C3、R4、C4——橋式接法中平衡調節阻抗。

  4、在高壓端接上高壓電阻R(50KV、100KV或以上)其輸出經(jīng)測量電纜接到后背板“接高壓電阻”輸入插座31(紅色)。

  5、在未加試驗電壓的情況下，用不接地的校正脈沖發(fā)生器(JZF-9或JZF-10均可，推薦使用JZF-9)的輸出經(jīng)接線(xiàn)盒接試品兩端，接線(xiàn)盒內注入電容分C=10PF及100PF兩種，按C<0.1(CX+CK)選取(如使用JZF-9，其注入電容C已裝在盒內一體化)。

  6、常用局部放電試驗電路

  使用步驟。

  1、開(kāi)機準備

  將“時(shí)基頻率”選擇7置于“50(內)”、“時(shí)基工作方式”5置于“橢圓”。單次正常選擇開(kāi)關(guān)18置于“正常”。對數線(xiàn)性選擇開(kāi)關(guān) 2置于線(xiàn)性。電源插座37接上220V工頻電源，將電源開(kāi)關(guān)13按到“I”位置，開(kāi)機預熱15分鐘以上。

  2、放電量校正與PC設定

  參照圖四接好線(xiàn)后，在未加試驗電壓前用JZF-9型校正脈沖發(fā)生器予以校正。其注入電量Q按發(fā)生器上指示的電壓U與接線(xiàn)盒上注入電容C的乘積計算Q=U·C。

  注意：接線(xiàn)盒應盡量靠近試品高壓端。

  如果使用JZF-9型校正脈沖發(fā)生器進(jìn)行放電量的校正，其注入電量Q可按發(fā)生器上的檔位指示值直讀。

  然后調節“放大器增益調節”14與 16使注入脈沖高度適當(示波屏上顯示高度2cm以下);電表1示值與注入已知電量相符，PC設定后，“放大器增益細調”旋鈕14的位置不能再改變，在以后測試中放大器的頻帶也不能改變，須保持與校正時(shí)相同。

  去掉JZF校正脈沖發(fā)生器與試驗電路的連接。

  下面以圖四為例，介紹一種試驗方法：

  例：用JZF-9或JZF-10型方波發(fā)生器注入試品兩端的電量為50PC，調節JF-2002局放儀面板旋鈕16，在第三檔調節放大器增益細調旋調14，使其表頭“1”指示為滿(mǎn)度50PC。去掉方波發(fā)生器，加入試驗電壓，此時(shí)表頭1所指示值即為放電量值的大小的兩倍，如大于50PC時(shí)應衰減“16”一檔(“16”為放大器增益粗調共分5檔，每檔20dB，10倍的關(guān)系)。

  3、測試操作

  接通高壓試驗電路電源，將KV-PC選擇開(kāi)關(guān)4置于“KV”,“零標選擇”開(kāi)關(guān)29置于“R”位置，緩緩升高試驗電壓，橢圓上將出現兩個(gè)零標脈沖，零標相位差180°，如試驗電壓超過(guò)高壓電阻R的額定電壓等級，則可在低電壓下將“零標選擇”開(kāi)關(guān)29置于“內”位置，出現由儀器產(chǎn)生的輔助零標脈沖，這時(shí)可調節電位器27，使輔助零標相位與“R”檔時(shí)相符(極性也要一致)，則在高壓下不用高壓電阻“R”也可獲得正確的零標位置。

  旋轉“橢圓旋轉”9使橢圓轉到預期的在放電時(shí)能最利于觀(guān)察之處，通常這個(gè)位置是零標脈沖分別處于橢園上部左側及下部右側之處。連續升高電壓，注意第一次出現持續放電，當放電量超過(guò)規定的最低值時(shí)的電壓即為局部放電起始電壓。

  測試中常會(huì )發(fā)現有各種干擾出現，可籍“時(shí)間窗”開(kāi)關(guān)20、21、用一個(gè)或兩個(gè)并用電位器19與 22來(lái)改變橢圓上加亮區域的寬度與位置。使其避開(kāi)干擾脈沖。用時(shí)間窗裝置可以分別測量產(chǎn)生于兩個(gè)半波內的放電量。

  4、頻率高于50HZ的局部放電試驗

  當須進(jìn)行高于50HZ的局部放電試驗時(shí)，可將“時(shí)基頻率”選擇7按在相應頻率檔上，從高頻試驗電源中取10V-250V試驗電壓送入插座33上，(轉動(dòng)“高頻電壓”選擇8，使橢圓大小適當即可，)

  當“高頻電壓”選擇8位置不當引起過(guò)載時(shí)，則電源會(huì )自動(dòng)切斷，同時(shí)過(guò)載指示燈6亮，此時(shí)應將“高頻電壓”選擇8順時(shí)針?lè )较蜣D到底，按一下“重新啟動(dòng)”按鈕11即可恢復啟動(dòng)(過(guò)載指示燈6滅)。示波屏上出現橢圓顯示。

  注意：為保護示波管，試驗電壓輸入“高頻電壓”選擇8所示值之比大于15%時(shí)才有橢園顯示。