局部放電測試系統試驗回路的一般要求，敘述了幾種用于測量局部放電參量的基本試驗回路，并介紹了這些回路和系統的工作原理。

  有關(guān)技術(shù)委員會(huì )還可以推薦用于特殊試品的特殊試驗回路。只要可能，建議有關(guān)技術(shù)委員會(huì )用視在電荷作為被測參量，但對特殊情況也可以使用別的參量。

  如果有關(guān)技術(shù)委員會(huì )未作規定，則4.2所述的任何試驗回路以及第5章中所規定的任何測量系統均可使用。

  試驗回路，用于局部放電測量的大多數回路可以由圖1a)~圖1d)所示的基本回路演變而來(lái)。圖2和圖3表示這些回路的一些變化，每個(gè)回路的組成主要有：

  a) 試品，通常被認為是一個(gè)電容器Ca(參見(jiàn)附錄D)。

  b)耦合電容器Ck(應設計為低電感電容)，或第二個(gè)試品Cn1(類(lèi)似于試品Ca)。在規定的試驗電壓下Ck或Ca1均應具有足夠低的局部放電水平，以便對規定的局部放電值進(jìn)行測量。如果一個(gè)測量系統能夠區分并分別測量來(lái)自試品和耦合電容器中的局部放電，那么允許Ck或Ca1具有較高的局部放電水平。

  c)帶輸人阻抗的測量系統(對平衡回路，還需要第二個(gè)輸入阻抗)。

  d)背景噪聲足夠低的高壓電源(見(jiàn)第6章和第7章)，以便在規定試驗電壓下對規定的局部放電值進(jìn)行測量。

  e)背景噪聲足夠低的高壓連接(見(jiàn)第6章和第7章)，以便在規定試驗電壓下對規定的局部放電值進(jìn)行測量。

  f)有時(shí)在高壓端接人一個(gè)阻抗或濾波器，以減小來(lái)自供電電源的背景噪聲。

  注：對于圖1~圖3所示的局部放電基本試驗回路，其測量系統的耦合裝置也可放在高壓端，即耦合裝置與Ca或Ck交換位置;這時(shí)可用光纜來(lái)連接耦合裝置和測量?jì)x器，如圖1a)所示。

  不同試驗回路的其他情況及特性可參見(jiàn)附錄C和附錄H。