局部放電檢測儀試驗過(guò)程中干擾的分類(lèi)

  由種種原因引起的干擾將嚴重地影響局部放電檢測儀局部放電試驗。假使這些干擾是連續的而且其幅值是基本相同的(背景噪聲)，它們將會(huì )降低檢測儀的有效靈敏度，即最小可見(jiàn)放電量比所用試驗線(xiàn)路的理論最小值要大。這種形式的干擾會(huì )隨電壓而增大，因而靈敏度是按比例下降的。在其他的一些情況中，隨電壓的升高而在試驗線(xiàn)路中出現的放電，可以認為是發(fā)生在試驗樣品的內部。

  因此，重要的是將干擾降低到最小值，以及使用帶有放電實(shí)際波形顯示的局部放電檢測儀，以最大的可能從試樣的干擾放電中鑒別出假的干擾放電響應。根據測量試驗回路中可能的干擾源位置可將干擾源分為兩類(lèi)：第一類(lèi)與外施高壓大小無(wú)關(guān)的干擾，第二類(lèi)是僅在高壓加于回路時(shí)才產(chǎn)生的干擾。

  局放干擾的分類(lèi)

  干擾的主要形式如下：

  (1)來(lái)自電源的干擾，這類(lèi)干擾只要控制、調壓器與變壓器等是接通的(不必升壓即可能影響測量;

  (2)來(lái)自接地系統的干擾，通常指接地連接不好或多重接地時(shí)，不同接地點(diǎn)的電位：差在局部放電檢測儀器上造成的干擾偏轉;

  (3)從別的高壓試驗或者電磁輻射檢測到的干擾，它是由回路外部的電磁場(chǎng)對回路的電磁耦合引起的包括電臺的射頻干擾，鄰近的高壓設備，日光燈、電焊、電弧或火花放電的干擾;

  (4)試驗線(xiàn)路的放電;

  (5)由于試驗線(xiàn)路或樣品內的接觸不良引起的接觸噪聲。