超低頻高壓發(fā)生器同步電機耐壓試驗方法

  1、在交接、大修、局部更換繞組以及常規試驗時(shí)，均可進(jìn)行此項試驗。用0.1Hz超低頻對電機進(jìn)行耐壓試驗，對發(fā)電機端部絕緣的缺陷比工頻耐壓試驗更有效。

  其原因是在工頻電壓下，由于從線(xiàn)棒流出的電容電流在流經(jīng)絕緣外面的半導體防暈層時(shí)造成了較大的電壓降，因而使端部的線(xiàn)棒絕緣上承受的電壓減小;而在超低頻情況下，此電容電流大大減小了，半導體防暈層上的壓降也大為減小，故端部絕緣上電壓較高，便于發(fā)現缺陷。

  2、接線(xiàn)方法：試驗時(shí)應分相進(jìn)行，給被試相加壓，非被試相短接接地。超低頻高壓發(fā)生器試驗接線(xiàn)如圖14所示。

  4、試驗時(shí)間整定：與工頻耐壓的試驗時(shí)間相同， 一般為1min。

  5、過(guò)流保護動(dòng)作電流整定值：整定方法與電纜相同。

  6、在耐壓過(guò)程中，若無(wú)異常聲響、氣味、冒煙以及數據顯示不穩定等現象，可以認為絕緣耐受住了試驗的考驗。為了更好地了解絕緣情況，應盡可能全面監視絕緣的表面狀態(tài)，特別是空冷機組。經(jīng)驗指出，外觀(guān)監視能發(fā)現儀表所不能反映的同步電機絕緣不正常現象，如表面電暈、放電等。