架空線(xiàn)路和站用瓷絕緣子的試驗項目、周期和要求
架空線(xiàn)路和站用瓷絕緣子的試驗項目、周期和要求
試驗項目
低（零）值絕緣子檢測
試驗周期
1） 投運后3年內應普測1次；
2）按年均劣化率調整檢測周期，當年均劣化率＜0.005%,檢測周期為5?6年；當年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測周期為4~5年；當年均劣化率＞0.01%,檢測周期為3年；
3）必要時(shí)。
試驗結果判斷依據
1）盤(pán)形懸式瓷絕緣子和10kV?35kV針式瓷絕緣子所測的絕緣電阻小于500MQ為低（零）值絕緣子；
2）所測低（零）值絕緣子年均劣化率大于0.02%時(shí)，應分析原因，并逐只進(jìn)行干工頻耐受電壓試驗。
試驗方法及說(shuō)明
1）項1應采用不小于5000V 的兆歐表；
2）項目2、項目3依據標準DL/T626；
3）測量電壓分布（或火花間隙）依據《帶電作業(yè)用火花間隙檢測裝置》DL/T415；
4）對于投運3年內年均劣化率大于0.04%, 2年后檢測周期內年均劣化率大于0.02% ,或年劣化率大于0.1%的絕緣子，或機械性能明顯下降的絕緣子，應分析原因，并采取相應措施。
試驗項目
干工頻耐受電壓試驗
試驗周期
1）投運后3年內應普測1次；
2）按年均劣化率調整檢測周期，當年均劣化率＜0.005%,檢測周期為5?6年；當年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測周期為4~5年；當年均劣化率＞0.01%,檢測周期為3年；
3）必要時(shí)。
試驗結果判斷依據1）盤(pán)形懸式瓷絕緣子應施加60kV；
2）對大盤(pán)徑防污型絕緣子，施加對應普通型絕緣子干工頻閃絡(luò )電壓值；
3）對10kV、35kV針式瓷絕緣子交流耐壓試驗電壓值分別為42kV及100kV。
測量電壓分布（或火花間隙）
試驗周期
1） 投運后3年內應普測1次；
2）按年均劣化率調整檢測周期，當年均劣化率＜0.005%,檢測周期為5?6年；當年均劣化率為0.005%? 0.01%,檢測周期為4~5年；當年均劣化率＞0.01%,檢測周期為3年；
試驗結果判斷依據1） 被測絕緣子電壓值低于50%標準規定值，判為劣化絕緣子；
2） 被測絕緣子電壓值高于50%的標準規定值，同時(shí)明顯低于相鄰兩側合格絕緣子的電壓值，判為劣化絕緣子；
3）在規定火花間隙距離和放電電壓下未放電，判為劣化絕緣子。
試驗項目
外觀(guān)檢查
試驗周期
必要時(shí)
試驗結果判斷依據
瓷件出現裂紋、破損，釉面缺損或灼傷嚴重，水泥膠合劑嚴重脫落，鐵帽、鋼腳嚴重銹蝕等判為劣化絕緣子。
試驗項目
機電破壞負荷試驗
試驗周期
必要時(shí)
試驗結果判斷依據
當機電破壞負荷低于85%額定機械負荷時(shí)，則判該只絕緣子為劣化絕緣子
試驗項目
絕緣子現場(chǎng)污穢度（SPS）測量
試驗周期
1）連續積污3年?6年
2）必要時(shí)試驗結果判斷依據
進(jìn)行等值附鹽密度（ESDD）及不溶沉積物密度（NSDD）測量，得出現場(chǎng)污穢度（SPS），為連續積污3?5年后開(kāi)始測量現場(chǎng)污穢度所測到的ESDD或NSDD最大值。必要時(shí)可延長(cháng)積污時(shí)間。試驗方法及說(shuō)明
1 ）測量方法按GB/T26218.1；
2）現場(chǎng)污穢度（SPS）等級的劃分參照附錄G
試驗項目
72.5kV及以上支柱瓷絕緣子超聲波探傷檢查
試驗周期
1）必要時(shí)試驗結果判斷依據
無(wú)裂紋和缺陷。
試驗方法及說(shuō)明1）對多元件組合的整柱絕緣子，應對每元件進(jìn)行檢測；
2）測試方法可參考DL/T303。
