介質(zhì)損失角試驗是高壓電氣試驗中絕緣預防性試驗的主要項目之一，是用于發(fā)現絕緣受潮、絕緣劣化等缺陷方面比較靈敏有效的試驗，在絕緣試驗中占重要位置。

介質(zhì)損失角的測試：
1、介質(zhì)損失角

電介質(zhì)的損耗：絕緣介質(zhì)在交流電壓的作用下，介質(zhì)中流過(guò)電流，電介質(zhì)中的部分電能將轉變成熱能，這部分能量稱(chēng)為電介質(zhì)損耗。做介質(zhì)損失測試是對設備絕緣狀況的有效判斷介質(zhì)損耗測試的辦法:測試介質(zhì)的損失角，即介質(zhì)上所做功產(chǎn)生的熱量對介質(zhì)絕緣的影響。

介質(zhì)中形成的電流分兩部分:一部分是電容的無(wú)功電流，另部分是引起損耗的有功電流。有功電流又分為三部分電流，分別產(chǎn)生三種損耗:電導損耗:由通過(guò)介質(zhì)的電導電流引起的損耗;極化損耗: 極化過(guò)程中介質(zhì)的電荷在交變電場(chǎng)下反復排列作周期運動(dòng)時(shí)克服摩擦所形成的吸收電流引起的損耗:游離損耗:氣體中的電暈，液體、固體中的局部放電生成的電流引起的損耗。

當總電流I與電容電流Ic的夾角為6，用6角的正切即I.與I.的比值來(lái)表示介質(zhì)損耗，6成為介質(zhì)損失角。通常由于6很小，故有：tan6≈sin6≈6，因此常常把tan6就稱(chēng)作介質(zhì)損失角。

介質(zhì)損失角的測試電路：采用的設備是西林電橋，即交流高壓電橋。測試設備：介質(zhì)損耗測試儀

如：QSI、QS3電橋或M型介質(zhì)損失器等。

影響電介質(zhì)損耗的幾點(diǎn)因素:

(1) 溫度，電介質(zhì)損耗與溫度的關(guān)系比較復雜，且隨電介質(zhì)材料、結構的不同而不同。

(2) 頻率，當電源頻率為某一數值時(shí)，損耗達到最大，改變電源的頻率，電介質(zhì)的損耗將減少。

3) 電場(chǎng)強度，良好的電介質(zhì)在電場(chǎng)增加時(shí)，介質(zhì)損失角幾乎不發(fā)生變化但電場(chǎng)增大到影響介質(zhì)電導電流增加時(shí)，則介質(zhì)損失角隨電介質(zhì)電導電流的增加而增加。

測量介質(zhì)損耗的意義:

1)由于介質(zhì)損失本身體現了泄漏電流和有損極化電流的情況。在絕緣受潮和絕緣有損失時(shí)，泄漏電流要增加，在絕緣中有大量的氣泡、雜質(zhì)，受潮的情況使極化加劇極化損耗就要增加。這樣，tan6反映了絕緣本身的狀態(tài).

2)介質(zhì)損耗時(shí)會(huì )引起絕緣內部發(fā)熱，溫度升高，這將使泄漏電流加大，有損極化加劇，介質(zhì)損耗增大。介質(zhì)損耗增大會(huì )使絕緣內部更熱，如此循環(huán)，可能在絕緣弱的地方引起擊穿，tan6反映絕緣由良好狀況向劣化狀況轉化的過(guò)程。

3)介質(zhì)損耗本身就是導致絕緣老化和損壞的一個(gè)因素。

影響介質(zhì)損角測量結果的因素有以下幾點(diǎn)：

(1) 溫度的影響
溫度對tan6有直接的影響，影響程度隨材料、結構的不同而異，一般情況下，tan6是隨溫度上升而增加，所以現場(chǎng)試驗時(shí)，設備的溫度是變化的，將不同溫度測試的tan6結果記錄下來(lái)，換算至20℃時(shí)的對應值，為的是便于比較。

(2) 試驗電壓的影響良好絕緣介質(zhì)的tan 8 不隨電壓的升高而明顯增加。如果絕緣內部有缺陷，測出的tan6隨電壓的升高而明顯增加。

3) 試品電容的影響

對容量較小的設備，測tan6能有效發(fā)現局部集中性缺陷和整體分布性缺陷。但對容量較大的設備，測tan8只能發(fā)現絕緣的整體分布性缺陷。因為局部集中性的缺陷所引起的損耗增加只占總損耗的極小部分，從而被掩蓋。