匝間沖擊耐壓試驗儀以MCU中央信息處理系統為核心，由它控制高壓脈沖發(fā)生器對線(xiàn)圈施加一次極短時(shí)間的高壓脈沖，線(xiàn)圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減振蕩,其瞬態(tài)波形的模擬信號經(jīng)高速A/D轉換器轉換成數字信號后反饋至MCU信息處理系統進(jìn)行時(shí)間、電暈量、面積、相位等參數的運算，處理結果保存在MCU信息處理系統的電子存儲器中，并用直觀(guān)易懂的文字、數據及圖形顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上，從而保證了波形重現的真實(shí)性。并且根據用戶(hù)設定的條件,對合格或不合格者進(jìn)行報警處理。

線(xiàn)圈質(zhì)量檢查判斷方法：

匝間沖擊耐壓試驗儀有4種典型的自動(dòng)檢查判斷方法，用戶(hù)可以根據被測線(xiàn)圈的實(shí)際情況，組合或單獨采用；每一種判斷方法，均可任意設定、修改臨界判斷門(mén)限，以達到正確、快速檢查判斷不同線(xiàn)圈品質(zhì)優(yōu)劣的目的。具體檢查判斷方法如如下：

波形面積比較（AREA SIZE）

在任意指定的區間內，對標準線(xiàn)圈和被測線(xiàn)圈波形面積進(jìn)行比較。

計算出A-B區間內的面積，判定兩者面積相差的程度。

判定的標準用百分比（％）進(jìn)行設定，計算結果在范圍內的為合格品。

區間內面積的大小，大體與線(xiàn)圈內能量損耗成比例，故能以此判斷能量損耗的大小。

例如被測線(xiàn)圈有匝間短路時(shí)，短路部分的反映是能量的損失增大。

波形差面積比較(DIFFERENTIAL AREA)

在任意指定區間內，對標準線(xiàn)圈和被測線(xiàn)圈波形偏差部分的面積與標準線(xiàn)圈波形面積進(jìn)行比較。

計算出A-B區間內面積差，對比標準波形（同圖1.3.2_1）判定偏差的程度。

判定的標準用百分比（％）進(jìn)行設定，結果在范圍內的為合格品。

波形偏差面積的大小表示電感值以及能量損耗程度的總和。

此方法可較全面地檢查線(xiàn)圈的電感L值及能量損失。

波形電暈量比較 (FLUTTER VALUE)

在任意指定的區間內，對被測線(xiàn)圈的電暈放電量與設定值進(jìn)行比較。

基本忽略波形差異，在任意指定的A－B區間內，僅在被測線(xiàn)圈實(shí)測波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進(jìn)行面積(積分)計算，并將計算結果與設定值進(jìn)行比較，判定電暈放電量是否合格。

可以認為該量是模擬方式中檢出的通過(guò)高頻濾波器的量值。

波形相位 (過(guò)零點(diǎn))比較(ZERO CROSS)

在任意指定的區間內，對標準線(xiàn)圈和被測線(xiàn)圈波形振蕩周期進(jìn)行比較。

任意指定的A－B區間內，計算被測線(xiàn)圈實(shí)測波形在該區間內的振蕩周期，并與標準波形在該區間內的振蕩周期進(jìn)行比較，并用這兩個(gè)量的百分比作為判定依據，基準用百分比來(lái)設定。

由于波形的振蕩周期與線(xiàn)圈的電感L密切相關(guān)，此方法可偏重于檢查線(xiàn)圈的電感L值。