耐受電壓試驗

對試品施加電壓時(shí)應從足夠低的數值開(kāi)始,以防止變過(guò)程引起的過(guò)電壓的影響;然后應緩慢地升高電壓,以便能在儀表上準確讀數,但也不應太慢,以免試品在接近試驗電壓U時(shí)耐壓的時(shí)間過(guò)長(cháng)。如果當電壓高于75%U時(shí)以2%U/s的速率上升,通常能滿(mǎn)足上述要求。將試驗電壓值保持規定的時(shí)間后,通過(guò)適當的電阻使同路電容(包括試品電容)放電來(lái)降低電壓。

耐受電壓的持續時(shí)間應由有關(guān)技術(shù)委員會(huì )根據試品的電阻和電容決定的達到穩態(tài)電壓分布的時(shí)間來(lái)確定。若有關(guān)技術(shù)委員會(huì )沒(méi)有規定，則耐受電壓試驗持續時(shí)間為60s。

電壓的極性或每種極性電壓的施加次序,以及任何不同于上述規定的要求應由有關(guān)技術(shù)委員會(huì )規定。

如果試品上沒(méi)有破壞性放電發(fā)生，則滿(mǎn)足耐受試驗要求。

破壞性放電電壓試驗

在試品上施加電壓并連續升壓(同耐受電壓試驗)直至試品上發(fā)生破壞性放電。應記錄破壞性放電發(fā)生瞬間的最后電壓值。該試驗應重復"次,以得到一組”個(gè)電壓測量值。有關(guān)技術(shù)委員會(huì )規定升壓速度、施加電壓次數和評估試驗結果的方法。

確保破壞性放電電壓試驗

在試品上施加電壓并連續升壓(同耐受電壓試驗)直至試品上發(fā)生破壞性放電。應記錄破壞性放電發(fā)生瞬間前的最后電樂(lè )值。該試驗需重復”次,以得到一組"個(gè)電壓測量值。如果在該組電壓中沒(méi)有一個(gè)電壓高于確保破壞性放電電壓,則認為滿(mǎn)足試驗要求，有關(guān)技術(shù)委員會(huì )應規定施加電壓的次數和升生速度。

試驗電流的測量

在測量流過(guò)試品的電流時(shí)，可以區分出幾個(gè)獨立的分量。對同一個(gè)試品和同一試驗電壓,各分量的大小可能差幾個(gè)數量級。這些分量是：

a)電容電流：由于開(kāi)始加上試驗電壓或由于試驗電壓上紋波或其他波動(dòng)所引起。

b)介質(zhì)吸收電流：由于絕緣中發(fā)生緩慢的電荷位移而引起。電流可持續幾秒至幾小時(shí)。該過(guò)程局部可逆。當試品放電或短路時(shí),可觀(guān)察到反極性電流。

c)持續泄漏電流：當a)和b)分量衰減到零后,在恒定電壓下達到穩態(tài)的直流電流。

d)局部放電電流。

測量a)、b)、c)3個(gè)分量時(shí)需用量程較寬的儀器。應注意保證儀器對某一個(gè)電流分量的測量不受其他分量的影響。對于非破壞性試驗,有時(shí)可以從觀(guān)測電流隨時(shí)間的變化規律中了解絕緣狀態(tài)。每個(gè)電流分量的相對幅值和重要性取決于試品的類(lèi)型和狀態(tài)、試驗的目的以及試驗的持續時(shí)間當特別需要區分某一特定分量時(shí),相的測量程序由有關(guān)技術(shù)委員會(huì )規定。

應使用校準過(guò)的測量系統進(jìn)行電流測量。

應使用GB/T7354局部放電測量標準中規定的專(zhuān)用局部放電測試儀器進(jìn)行局部放電脈沖電流的測量。

注：由于直流電壓試驗中可能出現破壞性放電，其電流遠大于常規電流，因此通常應在直流電流測量回路中使用電壓保護裝置。