微機繼電保護測試儀df/dt閉鎖。

  df/dt測試范圍

  測試“df/dt閉鎖值”時(shí)，在此范圍內逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每次測試時(shí)都從頻率始值下滑（或上滑）至終值，下滑（或上滑）的df/dt值在該范圍內逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗至保護動(dòng)作，則測出此時(shí)的df/dt閉鎖的邊界值。
  因為保護在大于整定的df/dt值下滑時(shí)閉鎖，所以，一般變化始值應設置為大于保護整定的閉鎖值，變化終值應設置為小于保護整定的閉鎖值，即測試保護從不動(dòng)作到動(dòng)作，測出保護的df/dt閉鎖值。

  頻率變化范圍

  每輪試驗頻率從始值下滑（或上滑）至終值。始值一般為50Hz，變化終值不能設置太小，因為一般裝置都有一個(gè)固有的“閉鎖頻率”，頻率太低了，裝置將會(huì )被閉鎖不出口。

  注意：做該試驗時(shí)頻率變化前延時(shí)一般不能太小，以使保護有足夠時(shí)間解除閉鎖狀態(tài)。