微機繼電保護測試儀dv/dt閉鎖。

  這個(gè)測試頁(yè)與上文中的“df/dt閉鎖”很相似，區別在于每輪測試變化的是dv/dt值。下面只對它們的不同點(diǎn)做介紹。

  dv/dt測試范圍

  測試“dv/dt閉鎖值”時(shí)在此范圍內逐點(diǎn)進(jìn)行試探測試，每次測試時(shí)電壓都從電壓變化始值下滑至終值，下滑的dv/dt值在該范圍內逐點(diǎn)變化，試探至某一輪試驗如果保護動(dòng)作，則測出dv/dt閉鎖的邊界值。
  因為裝置在大于整定的dV/dt閉鎖值時(shí)處于閉鎖狀態(tài)，所以，一般變化始值應設置為大于裝置整定的閉鎖值，變化終值應設置為小于裝置整定的閉鎖值。即試驗從裝置不動(dòng)作做到動(dòng)作，從而測出裝置的dv/dt閉鎖值。

  電壓變化范圍

  為了模擬電壓下降的過(guò)程，一般應設電壓的“變化始值”大于“變化終值”。同時(shí)，為了保證低周裝置不因低電壓而閉鎖，因此設置的電壓“變化終值”應大于裝置定值菜單中整定的低電壓閉鎖值。